後継機種：FPD / LSI検査顕微鏡 ECLIPSE L300ND / L300N / L200ND / L200N
反射照明観察では、明視野、暗視野、簡易偏光、微分干渉観察に加えて、UV（365nm）励起を含む落射蛍光観察（L200ND）が可能です。
半導体レジストの残渣や有機ELディスプレイの観察などで威力を発揮します。
三鷹光器 非接触三次元測定装置 NH-3SP
紹介動画
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