分光放射計　SR-LEDW-5N

ワイドダイナミックレンジ対応の分光放射計。

SR-LEDWのスペクトル波長幅5nmモデル。

概要

黒色画像表現を左右するメガコントラストとも呼ばれる超低輝度0.0005cd/m²から超高輝度クラスLEDの5,000,000cd/m²までの測定を実現した、これまでにないワイドダイナミックレンジ対応の分光放射計です。

トプコンテクノハウスのSRシリーズ最上位機であり、新たに搭載したFIXモードにより、測定条件の自動化が行われ同一サンプルに対して測定時間を短縮することができます。

近年、市場が急速に拡大しているLEDバックライトに使用されるモジュールの設計・開発用途に留まらず、生産プロセスでの高速・高精度管理にもご使用いただけます。

380nm～780nmの測定波長範囲内において5nm以下のスペクトル波長幅に対応しました。

特長

• ワイドダイナミックレンジ(0.0005～5,000,000cd/m²)対応
• FIXモード搭載により生産ラインでの連続測定時間を大幅に短縮 (弊社従来品比1/2)
• 均等感度の向上により、感度ムラが低減し簡易的にLEDチップ測定が可能です。
• 照度アダプター(別売)を取付けることにより、照度(lx)測定も可能。
• 5nm以下のスペクトル波長幅(半値幅)に対応

主な用途

• LEDバックライト、LED照明の輝度・色度、色温度特性、演色性評価
• LCD、OLED等、ディスプレイの輝度・色度、色温度特性、光学特性評価全般
• 車載ヘッドライト、バックランプ等、LED照明における輝度・色度の高精度測定
• 各種システム機器への光学特性評価センサーとしての搭載