カテゴリー 電子顕微鏡 /高分解能走査電子顕微鏡 日本電子

JSM-IT500HR

アプリケーション

分析走査電子顕微鏡 JSM-IT100外観
タングステンSEMの操作性はそのままに
より高分解能観察と分析が可能なシステム。

  • Zeromag搭載で視野探しが容易
  • LiveAnalysis搭載で分析も効率化
  • 広視野貼合背機能標準搭載
  • 高輝度電子銃搭載で×100,000観察可能
  • 新開発Auto調整機能により誰でも簡単操作
  • サブミクロン領域のEDS分析が可能

新機能Zeromag

CCD光学像から視野拡大が可能となり、マクロ画像から高倍率観察までストレスなく可能

LiveAnalysis機能

SEM観察中に常にEDSスペクトルが表示できるようになりました。
予め着目元素を登録すればアラート機能で表示可能なので分析作業が効率的に行えます

高速・長時間マッピング機能

高輝度電子銃採用により高倍率マッピングも高分解能で評価可能。

試料:金粒子 加速電圧:×20kV 撮影倍率:×50,000 マッピング時間:70秒

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