★☆★ Ryokosha メールマガジンvol.89 お役立ちニュース ★☆★
【INDEX】
◆イベント情報
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セミコンジャパン2022 アミリアジャパン出展のご案内
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SiCやGaNなど化合物ウェハの欠陥検査にお困りではございませんでしょ
うか？
通常の画像処理による外観検査装置では検出/分類分けが難しく、専用の
検査装置では時間がかかり過ぎるという課題に、AI機能を搭載した次世代
の検査装置をご案内しております。
日時：2022年12月14日(水) – 16日(金) 10:00～17:00
会場：東京ビッグサイト
小間番号：東5ホール 5820
入場：以下URLより事前登録が必要となります。
https://semi.eventos.tokyo/web/portal/609/event/5715/users/login
※セミコンジャパン2022の詳細は、下記のWebサイトよりご確認下さい。
https://www.semiconjapan.org/jp
【出展製品】
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AI化合物半導体検査装置 nSpec®
独自開発のAIとAIに最適化した光学系の組み合せで化合物ウェハ特有の
曖昧な欠陥も検出/分類分けが可能です。
ウェハの製造工程から成膜、デバイス形成などあらゆるプロセス管理に
有効です。
◆セミコンジャパン2022 出展製品案内状（PDFファイル約0.6MB）
https://www.ryokosha.co.jp/ja/wp-content/uploads/2022/12/SEMICON-Japan-2022-Ryokosha-Exhibition-Guide.pdf
ご来場の際には、是非お立ち寄り頂きたくお願い申し上げます。
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尚、菱光社ではMicrosoft Teamsを使った測定装置等のwebデモを随時行っております。
デモをご希望の方は菱光社営業担当までお問合せ下さい。
