主な特徴
- 数10μmサイズの微小領域の複屈折分布を定量評価解析を行うことが可能
- 130nm(λ/4)までの位相差を測定可能。
- 透過測定
- 面分布測定結果から様々な統計解析機能
- text、csvフォーマットでのデータ出力
基本原理
- 複屈折を持つ透明物質を通り抜けると、光の偏光状態が変化します(光弾性効果)。逆に、物体を通過する前後の偏光状態を比較することにより、複屈折を評価することができます。
- フォトニックラティス製独自のフォトニック結晶フィルタを組み込んだ偏光イメージセンサは、眼には見えない偏光情報を画像として捉えます。 専用の演算・画像処理ソフトとの組み合わせて、複屈折分布を定量データ化、可視化 できます。
主な仕様
●測定 | |
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測定範囲 | 1~1/4λ(130nm) |
繰返し精度 | 1nm以下 |
●センサユニット | |
偏光画像画素数 | 100万画素 |
測定波長 | 527nm |
●観察領域 | |
観察視野 | x2(測定領域 縦:2mm、横:2.6mm) x4(測定領域 縦:1mm、横:1.3mm) x10(測定領域 縦:0.4mm、横:0.52) x20(測定領域 縦:0.2mm、横:0.26mm) x40(測定領域 縦:0.1mm、横0.13mm) |
●筐体 | |
寸法 | 240×400×570mm |
本体重量 | 10kg |
●その他 | |
インターフェース | GigE |
電源 | AC100V、30W |
ソフトウェア | PA-View (for micro) |
その他付属品 | デスクトップPC、標準対物レンズ ※4倍、10倍、20倍、40倍 取扱説明書 |
※各仕様は予告無しに変更することがあります。 ※本製品で計測できる内部歪みは光学的に測定され、 測定値は光学位相差(単位:nm)で表示されます。 |
ソフトウェア
- 付属のPA-Viewは、PA-110の操作と取得データの解析・保存など、一連の操作を簡単に行うことができるよ うにつくられた専用ソフトウェアです。ここではPA-Viewの主な機能を紹介します。
- ボタンクリックによる簡単操作
複雑な初期設定なしに、すぐに測定を行うことができます。また、サンプルをステージに置いて測定ボタンを押すだけで、次々に多数個のサンプル測定が可能です。 - 多彩なデータ表示機能
複屈折軸方位の線表示、任意領域のヒストグラム、任意ライン上の定量解析、任意閾値以上の領域表示など、様々にデータ解析ができます。
- 数の撮影データを同一画面上で比較できるデータアルバム機能、画面上で実際の寸法を確認できる測長機能、
テキスト形式でのデータ保存機能など、解析を強力にサポートする機能が充実しています。
測定例
PA-microをもちいた液晶セルの顕微観察例
液晶セルの偏光方位分布を、瞬時に撮影、定量評価、保存できます。