▼Inspection for PBGA/SIP/CSP | ▼Inspection for Flip Chip / Cavity Down | ▼Reel type最終外観検査装置COF,TAB |
– 出荷前の最終外観検査システムを導入して検査コストダウンの提案 –
▼ピンポイント検査/不良流失防止 …
高分解能 | 微細なステージ動作による高精度位置合わせ |
操作性 | 半自動動作により検査員のマテハンロスの軽減 |
データ通信 | 設備とLAN接続を行いスムーズなデータ呼出し |
多機能 | 顕微鏡検査とモニタ検査の選択が可能 |