近赤外分光放射計 SR-NIR
超微弱な近赤外領域の計測を実現した分光放射計。
600~1030nmの分光分布を高精度測定。
概要
近年、特にディスプレイや照明市場において、「近赤外領域」測定の需要がますます増えてきて参りました。
また、これを手軽にかつ高精度に測定できる計測器がありませんでした。
このような状況の中、トプコンテクノハウスは分光放射計SRシリーズで培われた技術を基に「近赤外分光放射計SR-NIR」を開発いたしました。
本製品は、分光放射計SRシリーズと併用していただくことで、380nm~1030nmの分光放射輝度を測定することが可能となりました。
特長
- FPDから微弱に発光する近赤外領域の測定が可能
- 近赤外領域(600~1030nm)の分光分布の高精度測定を実現
- 当社分光放射計SRシリーズとの併用で、可視~近赤外(380~1030nm)における分光分布測定が可能
主な用途
- 各種FPDの近赤外領域の出力観測
- Ne、Arの輝線出力観測
- 光学フィルム等の近赤外透過特性の評価
- その他光源の近赤外分光計測