アメリカ航空宇宙局(NASA)に三鷹光器製 非接触三次元測定装置 納入!
●納入日:2016年2月8~12日
●納入場所:アメリカ合衆国カリフォルニア州パサデナ市
●納入先:NASA ジェット推進研究所(JPL=Jet Propulsion Laboratory)
※NASAの無人探査機等の研究開発及び運用に携わる研究所です。
こちらでは天体観測に使用される光学部品の試作を行っておられます。今回はその光学部品表面の三次元測定がテーマとなりました。天体周辺の衛星の数を数える際に、天体の輝度により衛星を詳細に観察する事が出来ず、天体の輝度を抑える目的で光学部品が用いられております。その測定用途でNHが使われております。
マイクロデバイスラボラトリーにて
2016年2月9日納入時の三鷹光器及び弊社技術スタッフ
左から2番目は弊社社長の小倉、1番右が弊社技術の矢木MG
アメリカ航空宇宙局(NASA)も認めた 三鷹光器製 非接触三次元測定装置 NH !
NASAにも採用された三鷹光器㈱製ポイントオートフォーカスプローブ式(ISO25178-605※1)
非接触3次元測定装置シリーズについて
NH5N
全周三次元測定装置MLP
●納入装置:NH-5Ns
●測定範囲(X,Y,Z)=300×400×10mm
●分解能(X,Y,Z)=0.1×0.1×0.01μm
●ステージ耐荷重:100kg
●測定方式:ポイントオートフォーカス法
NH-5Nsは、門型構造で精密金型など大型重量物の高精度測定を実現しております。
この測定原理そのものが、2014年にISO規格に採用されました。NHシリーズは、そのISO規格でもある測定原理のポイントオートフォーカス法を搭載した非接触三次元表面性状測定装置になり、世界で450台の実績があります。菱光社はこの非接触表面性状測定機(三鷹光器製)のソフト開発及び販売、サポートを行っています。
ところで、2012年にISOにて非接触形状・粗さの規格が制定(ISO25178)されたことにより、「粗さ測定器」業界の動きに変化が見られ始めております。ここで非接触になることでのメリットを以下にまとめます。
①測定スピードが速い
②触針が入り込めない微小な部分の測定が可能
③ワークにキズをつけない
特に測定スピードが格段に速くなることで、これまでの接触式の一断面(XZ)の評価から三次元(3D)粗さ評価をすることが可能になり、実際にそれを希望するお客様がここ数年で増えてきております。具体的には面で広いエリア(0.8mm~1.0mm□程度)の三次元粗さ評価などになります。また、歯車などの自動車部品においても接触式ではこれまでは測定が困難とされてきましたが、非接触で全周測定も可能になりました。ゴムや軟質材、微細形状品の形状測定や粗さ測定など接触式が苦手とするワークや、車載カメラなどのカメラ用レンズ(非常に小型な樹脂成型品)やインパネ、内装品、HUDなどは針でキズをつけたくない代表的なワークも非接触ではキズを付けずに測定が可能です。今後、このような需要は非常に多くなってくることが予測されております。
※1.ISO25178シリーズは、Part6において、 Classification of methods for measuring surface texture2010(表面性状の測定方法の分類)として、JISB0681-6 :2014 でJIS 化もされております。