カテゴリー 製品シリーズ, 膜厚計 フォトニックラティス エリプソメータ 【フォトニックラティス】 ME-210 高速マッピングエリプソメータ 【特徴】微小領域からウエハー全面の膜厚分布まで測定可能とした、最新鋭の機種となります ◎横分解能20μm角 【用途】ウェハーのレジスト膜厚、熱酸化膜厚の評価、パターン膜厚 ME-110 高速マッピングエリプソメータ 【特徴】極薄膜の膜厚&屈折率分布の高速測定 【用途】ウェハーのレジスト膜厚、熱酸化膜厚の評価 SE-101 PCAエリプソメータ 【特徴】簡単操作、ポータブル、低価格、脱着可能なヘッドユニット 【用途】ウェハーのレジスト膜厚、熱酸化膜厚の評価 SE-102 PCAエリプソメータ 【特徴】膜厚や屈折率の、線分布や面分布を、高速に測定 【用途】半導体ウエハの微細パターンやバイオセンサーの薄膜評価など、様々な試料の膜厚分布を測定。 この製品についてのお問い合わせ お問い合わせ お問い合わせの内容を選び、具体的にご記入下さい。お客様のニーズにお応えできるよう最適な製品を選定のうえ、弊社営業担当よりご連絡申し上げます。尚、お客様の秘密事項に属するご相談につきましては、各営業所担当に直接お電話にてお問い合わせ下さい。 お電話によるお問い合わせはこちら→営業所のご案内 どのようなことをご検討中ですか?(必須) 新規導入買い替え既存設備の改善デモンストレーション見積りカタログ請求ご相談最新情報ご案内公的補助金制度 無料コンサルタント 最新情報ご案内(メールマガジン)を希望しますか? 希望する →メールマガジンバックナンバー 具体的な内容をご記入ください。(必須) お名前 (必須) お名前 ふりがな メールアドレス (必須) 確認用メールアドレス (必須) 御社名 (必須) 所属部署 業種 (必須) ---電子部品半導体・ディスプレイ家電・情報端末自動車・自動車部品光学・精密部品素材・材料大学・公的機関装置製造金型・成型・精密加工商社工作機械光通信・電池その他 郵便番号 住所 (必須) 連絡先電話番号 (必須) プライバシーポリシーに同意して問い合わせを送信する(チェックを入れてください)